第1621章 现在和未来,都是我们的

“算了。”栾文杰低声感叹,声音透过面罩显得有些沉闷,“这东西就算能展出,我们怕是也抢不过国博……”

一个玩笑,让现场的气氛轻松了不少。

但很快,他又话锋一转。

“我之前去华芯国际调研的时候,听他们的技术专家提到过。”栾文杰提出了一个更长远的问题,“在当前硅基cmos工艺的物理框架下,制程的极限大概在5nm或者3nm附近,如果按照刚才计算的107. ……”

“是否意味着,未来我们这台arf ,甚至下两代的产品?这关系到我们战略窗口期的长短!”

这个问题,张汝宁已经等待了很久。

“跟刚才那张表上的情况一样,业界宣传的‘5nm’、‘3nm’这些节点名称,仍然是制程迭代的代称,跟实际的最小物理特征尺寸并非严格的一一对应关系。”

他解释道:

“所谓‘5nm’节点实际对应的特征尺寸,业界预估会在 ‘3nm’,则可能对应到 。”

张汝宁隔着面罩整理了一下护目镜,继续深入技术本质:

“对于 ,工艺整合的复杂度也会提升,不过技术路径是确定存在的。”

尽管隔着面罩,但众人还是能感觉到,栾文杰原本皱着的眉头舒展开来。

而张汝宁语气却变得慎重起来:

“至于 ……实际上,随着芯片制程逼近硅材料的物理极限,量子隧穿效应将变得无法忽视,晶体管将难以有效关断,漏电流剧增,同时微观层面的不确定性会急剧放大,导致器件性能的波动性大幅增加。”

“一般认为这个临界尺寸会在 ,以及任何工业产品都不可能做到真正意义上的完美无缺,就算是使用euv光刻机,要想稳定量产特征尺寸在 ,而且良率会不可控制的降低。”

随后,他做了一个总结性的判断:

上一页目录下一页

猜你喜欢